深圳市博納德自主研發的光斑分析儀是基于高分辨率CCD 和CMOS 面陣型光斑測量儀，是一款能夠實時測量連續或脈沖激光束的實時診斷系統。目前包含3個不同型號產品，波長范圍覆蓋266~1700nm，像素最小達到2.5*2.5μm，探測器面積最大可達25*25mm。
LaserCheck系列光斑分析儀不僅能實時顯示激光2D/3D圖像，導出光強分布數據，且提供激光束參數實時演示和分析能力，具體測量的參數包括：光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強度分布、橢圓度等眾多參數，同時還提供了報表功能，記錄光束分析設置和可實現激光光斑質量檢測、光斑大小、光斑點穩定性、一維、二維、三維能量分布等多參數測量，純中文操作界面，直觀友好，功能非常強大，目前已得到了廣大科研和工業客戶的一致認可。為了滿足各客戶特殊需求，我司還為客戶提供定制的光束質量分析和一體化設計解決方案，如焦點分析儀、近場分析儀，且配套各類衰減方案和擴束、縮束模組，滿足客戶測量上百W功率和不同大小光斑大小的測試要求。
規格參數
| 型號 | BND-SWIR-9070 |
| 感光面 | InGaAs |
| 波長范圍 | 900-1700nm |
| 感光?積 | 9.6mm*7.68mm |
| 可測尺? | 150um-7.68mm |
| 像素大小 | 15um |
| 分辨率 | 640x512 |
| 位深 | 12bit |
| 幀數 | 30 |
| 曝光時間 | us 到 1s |
| 增益 | 58dB |
| 觸發 | |
| 飽和強度 | 0.2 μW/cm2 |
| 靈敏度 | |
| 工作溫度 | 0-50℃ |
| 尺寸 | |
| 相機?作模式 | CMOS 全局快門 |
| 電腦接? | USB |
配套衰減器(最高功率可測量>1000W)
BND-SWIR-9070高功率9.6mm*7.68mm光束質量分析儀
BND-SWIR-9070高功率9.6mm*7.68mm光束質量分析儀
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